日本SUNX超小型激光傳感器解析
激光傳感器詳見

簡(jiǎn)單易行的光軸調(diào)整 EX-L211 / L212
在觀察反射在光軸調(diào)整屏幕上的紅色光點(diǎn)的同時(shí)，根據(jù)實(shí)物進(jìn)行光軸
調(diào)整。在觀察光軸調(diào)整屏幕和穩(wěn)定指示燈(綠色)的時(shí)候，*位置將一
采用符合IP67標(biāo)準(zhǔn)的保護(hù)構(gòu)
造，防水，防塵
限定反射型EX-L261 / L262
光點(diǎn)光軸型 EX-L261： 光點(diǎn)尺寸：φ 0.1mm以下(典型值)
檢測(cè)距離：20mm～50mm
線性光軸型 EX-L262： 光點(diǎn)尺寸：約1mm×5mm(典型值)
檢測(cè)距離：20mm～70mm
放大器內(nèi)置·超小型激光傳感器
EX-L200 系列
在此機(jī)體中放大器內(nèi)置嗎？
超小型
通過改進(jìn)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，采用專門設(shè)計(jì)的定制IC，大幅縮小了機(jī)身體
積。與通用光電傳感器相比，其體積品縮小了約67%(透過型)和約
58%(反射型)。也因此，原本屬于原有超小型光電傳感器范疇的小
型機(jī)身型中如今多了一款放大器內(nèi)置型激光傳感器。
通用光電傳感器
進(jìn)深 12 mm
W8.2mm×H23.4mm×D12mm (透過型)
檢測(cè)精度高EX-L211 / L221
適用于執(zhí)行定位操作和微小物體檢測(cè)
檢測(cè)距離在100mm～200mm范圍內(nèi)時(shí)的重復(fù)精度為0.02mm以下，
使之較適合于執(zhí)行定位(EX-L221)。此外，ding的檢測(cè)精度亦在采
用φ0.01mm金線的小巧型激光傳感器系列中顯露無遺。
超細(xì)管*檢測(cè)
型號(hào)
(微小物體檢測(cè)型)
小檢測(cè)物體
(典型值)
重復(fù)精度
(典型值)
EX-L211(透過型) φ0.3 mm 0.01 mm 以下
EX-L221(反射型) φ0.01 mm 0.02 mm 以下
靈敏度調(diào)節(jié)器 EX-L211 / L221 / L291 / L26□
備有上小的靈敏度調(diào)節(jié)器，確保微小物體檢測(cè)或高精度物體檢
測(cè)時(shí)的。
符合FDA標(biāo)準(zhǔn)
FDA
符合EMC指令
種類
透過型回歸反射型光點(diǎn)反射型限定反射型
微小物體檢測(cè)長(zhǎng)檢測(cè)距離長(zhǎng)檢測(cè)距離微小物體檢測(cè)光點(diǎn)光軸型線性光軸型
項(xiàng)目型號(hào)EX-L211(-P) EX-L212(-P) EX-L291(-P) EX-L221(-P) EX-L261(-P) EX-L262(-P)
檢測(cè)距離1m 3m 4m(注1) 45mm~300mm(使用100mm×100mm白色無光澤紙張) 20mm～50mm(：22mm) 20mm～70mm(：22mm)
光點(diǎn)尺寸(代表示例) 6mm×4mm(縱×橫)
(距離約為1m時(shí))
8mm×5.5mm(縱×橫)
(距離約為1m時(shí))
6mm×4mm(縱×橫)
(距離約為1m時(shí))
φ1mm以下
(距離為300mm時(shí))
φ1mm以下
(距離為50mm時(shí))
約1mm×5mm
(距離為50mm時(shí))
檢測(cè)物體φ2mm以上的不透明體φ3mm以上的不透明體φ2.5mm以上的不透明體或半透明體不透明體、半透明體或透明體
小檢測(cè)物體(代表示例) φ0.3m的不透明體 φ0.01mm的金線——
重復(fù)精度垂直于檢測(cè)軸：0.05mm以下垂直于檢測(cè)軸：0.2mm以下
電源電壓12V DC~24V DC ±10%
輸出NPN開路集電極晶體管或PNP開路集電極晶體管
反應(yīng)時(shí)間0.5ms以下
防干擾功能 裝備(可緊貼安裝2臺(tái)傳感器) ——
使用環(huán)境溫度－10℃ ~ ＋55℃
投光元件紅色半導(dǎo)體激光 1(IEC/JIS/FDA)(輸出(EX-L211/212□ 390μW, EX-L291□ 0.5 mW, EX-L221□ 2mW、投光波峰波長(zhǎng)：655nm)
尺寸W8.2mm×H23.4mm×D12mm W8.2mm×H27.4mm×D13mm W8.2mm×H27.4mm×D13.5mm
(注1)：檢測(cè)距離指的是反射鏡RF-330(附件)的數(shù)值。檢測(cè)距離表示的是傳感器的實(shí)際檢測(cè)距離。下表中“A”項(xiàng)表示的檢測(cè)距離因檢測(cè)物體的形態(tài)不同而異。請(qǐng)務(wù)必檢查實(shí)際檢測(cè)物體的工作情況。

實(shí)物圖

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